HAST高加速寿命测试，是通过对样品施加高温高湿以及高压的方式，实现对产品加速老化的一种试验方法。广泛用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验，用于评估产品密封性、吸湿性及老化性能。

HAST高加速寿命测试是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度，湿度，压力，的各种条件来完成，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。

相对于传统的高温高湿测试，如85°C/85％RH，HAST增加了容器内的压力，使得可以实现超过100℃条件下的温湿度控制，能够加速温湿度的老化效果（如迁移，腐蚀，绝缘劣化，材料老化等），大大缩短可靠性评估的测试周期，节约时间成本。HAST高加速老化测试已成为某些行业的标准，特别是在PCB、半导体、太阳能、显示面板等产品中，作为标准高温高湿测试（如85C/85%RH-1000小时）的快速有效替代方案。

 

HAST高压加速寿命老化箱示意图
 

HAST高加速寿命测试的流程一般包括以下步骤：

1.样品准备：选择需要进行测试的样品，并确保样品的尺寸、结构、材料等符合测试要求。

2.试验前准备：对试验箱进行检查和维护，确保其正常运转，并按照标准要求设置测试参数，如温度、湿度、时间等。

3.样品安装：将待测试的样品按照要求安装在试验箱内，确保样品的稳定性和安全性。

4.开始测试：启动试验箱，开始进行高加速寿命测试。在测试过程中，试验箱会模拟高温高湿环境，对样品进行加速老化。

5.测试过程监控：在测试过程中，需要对样品的性能和状态进行实时监控，记录测试数据。

6.测试结果分析：根据测试数据对样品的性能和可靠性进行分析和评估，找出潜在的问题和缺陷。

7.后续处理：根据测试结果对样品进行相应的处理，如修复、改进或报废等。